工具顯微鏡的七種觀察方式

工具顯微鏡的明視野鏡檢是大家比較熟悉的一種鏡檢方式，廣泛應用于病理、檢驗，用于觀察被染色的切片，所有顯微鏡均能完成此功能。

明視野

二.工具顯微鏡暗視野觀察(Dark field DF)

暗視野實際是暗場照明發。它的特點和明視野不同，不直接觀察到照明的光線，而觀察到的是被檢物體反射或衍射的光線。因此，視場成為黑暗的背景，而被檢物體則呈現明亮的象。

暗視野的原理是根據光學上的丁道爾現象，微塵在強光直射通過的情況下，人眼不能觀察，這是因為強光繞射造成的。若把光線斜射它，由于光的反射，微粒似乎增大了體積，為人眼可見。

m..m 暗視野觀察所需要的特殊附件是暗視野聚光鏡。它的特點是不讓光束由下至上的通過被檢物體，而是將光線改變途徑，使其斜射向被檢物體，使照明光線不直接進入 物鏡，利用被檢物體表面反射或衍射光形成的明亮圖象。暗視野觀察的分辨率遠高于明視野觀察，zui高達0.02—0.004

暗視野

三.工具顯微鏡的相差鏡檢法(Phase contrast PH)

在光學顯微鏡的發展過程中，相差鏡檢術的發明成功，是近代顯微鏡技術中的重要成就。我們知道，人眼只能區分光波的波長(顏色)和振幅(亮度)，對于無色通明的生物標本，當光線通過時，波長和振幅變化不大，在明場觀察時很難觀察到標本.

相差顯微鏡利用被檢物體的光程之差進行鏡檢，也就是有效地利用光的干涉現象，將人眼不可分辨的相位差變為可分辨的振幅差，即使是無色透明的物質也可成為清晰可見。這大大便利了活體細胞的觀察，因此相差鏡檢法廣泛應用于倒置顯微鏡。

相差圖片

相差顯微鏡的基本原理是，把透過標本的可見光的光程差變成振幅差，從而提高了各種結構間的對比度，使各種結構變得清晰可見。光線透過標本后發生折 射，偏離了原來的光路，同時被延遲了1/4λ(波長)，如果再增加或減少1/4λ，則光程差變為1/2λ，兩束光合軸后干涉加強，振幅增大或減下，提高反 差。在構造上，相差顯微鏡有不同于普通光學顯微鏡兩個特殊之處：

1. 環形光闌(annular diaphragm) 位于光源與聚光器之間，作用是使透過聚光器的光線形成空心光錐，焦聚到標本上。

2. 相位板(annular phaseplate)在物鏡中加了涂有氟化鎂的相位板，可將直射光或衍射光的相位推遲1/4λ。分為兩種：

1. A 相板：將直射光推遲1/4λ，兩組光波合軸后光波相加，振幅加大，標本結構比周圍介質更加變亮，形成亮反差(或稱負反差)。

2. B 相板：將衍射光推遲1/4λ，兩組光線合軸后光波相減，振幅變小，形成暗反差(或稱正反差)，結構比周圍介質更加變暗

工具顯微鏡的相差原理

四.工具顯微鏡的微分干涉稱鏡檢術(Differential interference contrast DIC)

微分干涉鏡檢術出現于60年代，它不僅能觀察無色透明的物體，而且圖象呈現出浮雕壯的立體感，并具有相襯鏡檢術所不能達到的某些優點，觀察效果更為逼真。

工具顯微鏡的原理;

微分干涉稱鏡檢術是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等，光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現重影現象，使圖象呈現出立體的三維感覺。

微分干涉圖片

DIC顯微鏡的物理原理*不同于相差顯微鏡，技術設計要復雜得多。DIC利用的是偏振光，有四個特殊的光學組件：偏振器(polarizer)、 DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器(analyzer)。偏振器直接裝在聚光系統的前面，使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了偌瑪斯斯棱鏡，即DIC 棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光(x和y)，二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。zui初兩束光相位一致，在穿 過標本相鄰的區域后，由于標本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個偌瑪斯斯棱鏡，即DIC滑行器，它把兩束光波 合并成一束。

這時兩束光的偏振面(x和y)仍然存在。zui后光束穿過第二個偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏 器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時，沒有光穿過檢偏器;光程差值 等于波長一半時，穿過的光達到zui大值。于是在灰色的背景上，標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到*狀態，可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改 變光程差，光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立 體感，類似大理石上的浮雕

工具顯微鏡的微分干涉原理圖

五.偏光顯微鏡(Polarizing microscope POL )

偏光顯微鏡的特點

偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色發來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。

偏光顯微鏡的特點，就是將普通改變為偏光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。

雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物，化學等領域。在生物學和植物學也有應用。

六.浮雕相襯工具顯微鏡(RC HMC )

1975年，Robert Hoffman 博士發明

2002年，到期，各顯微鏡廠家紛紛推出采用以自己名義命名的RC技術產品

工具顯微鏡的原理

斜射光照射到標本產生折射、衍射，光線通過物鏡光密度梯度調節器產生不同陰影，從而使透明標本表面產生明暗差異，增加觀察對比度

特點

提高未染色標本的可見性和對比度;

圖象顯示陰影或近似三維結構而不會產生光暈;

可檢測雙折射物質(巖石切片、水晶、骨頭) ;

可檢測玻璃,塑料等培養皿中的細胞,器官和組織;

聚光鏡的工作距離可以設計的更長;

RC物鏡也可用于明場,暗場和熒光觀察

七：熒光顯微鏡(Fluorescence Microscopy FL)

熒光鏡檢術是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體，使之受激發后而產生長波長的熒光，然后觀察。

熒光圖象

工具顯微鏡的優點：

檢出能力高(放大作用)

對細胞的刺激小(可以活體染色)

能進行多重染色

工具顯微鏡的用途：

物體構造的觀察——熒光素

 熒光的有無、色調比較進行物質判別——抗體熒光等

 發熒光量的測定對物質定性、定量分析